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產品詳細頁
HORIBA堀場X射線熒光分析儀

HORIBA堀場X射線熒光分析儀

產品介紹

HORIBA堀場X射線熒光分析儀

型號MESA-50K

 

為了滿足 RoHS/ELV 測試和分析有害元素,HORIBA 提供了 X 射線熒光分析儀 XGT-1000WR 系列。后續HORIBA發布了直觀便捷的 MESA-50 X射線熒光分析儀,后續MESA-50系列增加了一種帶有大樣品室的新型 MESA-50K, 它配備了無需液氮的精密檢測器,As/Sb 分析功能和多層膜FPM 可作為可選功能。

 

應用:

對涂層進行無損的厚度和成分分析、固體廢物管理和修復服務中的固體廢物燃燒器和焚化爐、電子行業的顯微XRF 分析、鉛污染的玩具分析

 

特點

1. 快速

硅漂移檢測器(SDD) 大幅度減少了測量時間,在高通量的同時提供了更高的靈敏度

2. 小巧

便攜、體積小、重量輕

內部電池供電

3. 簡單

減少日常維護工作(無需液氮)

無需真空泵

各種材料測量直觀簡單

4. 智能

英文/日文/中文多語言操作界面

Excel數據管理工具

5. 安全

無需擔心 X 射線泄漏

 

HORIBA堀場X射線熒光分析儀

技術參數

基礎項

 

原理

能量分散性X射線熒光光譜

目標應用

RoHS, ELV, Halogen Free

測量元素

13Al - 92U

樣品類型

固體, 液體, 粉末

X-ray 發生器

 

X-ray

不超過50kV, 0.2mA

X-ray輻射尺寸

1.2mm, 3mm, 7mm (自動切換)

X-ray初級過濾器

4 types (自動切換

檢測器
 

類型

SDD (Silicon Drift Detector)

信號處理器

數字脈沖處理器

樣品倉

大氣環境

空氣

樣品觀察

CCD相機

樣品倉尺寸

460 x 360 x 150 mm [W x D x H]

應用

操作

PC (Windows® 7)

電源

100-240V, 50/60Hz

儀器尺寸


590 x 590 x 400 mm [W x D x H]

重量


60 kg

軟件

分析功能

多層膜FPM法(可選)

Sb/As分析(可選)

Windows是微軟公司的注冊商標.


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